リフトオフ用ポジ・ネガフォトレジスト

リフトオフ用ポジ・ネガフォトレジスト

単層・単一露光によりリフトオフ形状が形成可能なポジ型・ネガ型両タイプのフォトレジストをご用意しております。スパッタ蒸着による成膜プロセスに対応。一般的な有機溶剤にて容易に剥離が可能です。

Lift-off工程用レジスト

Lift-off工程用レジスト

ネガタイプTLOR-N001PM

一度露光にて逆テーパープロファイルの形成が可能なアルカリ現像タイプのネガ型フォトレジストです。1~6μmの幅広いレジスト膜厚領域対応。レジスト除去も一般的な剥離液をご使用いただけます。

特長

  • ネガティブトーンタイプ
  • 逆テーパープロファイル
  • レジスト膜厚 : 1.0~6.0μm
Focus レジスト膜厚 = 6μm
Eop 120mJ/cm2
レジスト膜厚 = 3μm
Eop 100mJ/cm2
レジスト膜厚 = 1μm
Eop 80mJ/cm2
プロファイル C.D./角度 プロファイル C.D./角度 プロファイル C.D./角度
-1.5μm レジスト膜厚 = 6μm Eop 120mJ/cm2:プロファイル -1.5μm 10.2μm/73° レジスト膜厚 = 3μm Eop 100mJ/cm2:プロファイル -1.5μm 10.1μm/75° レジスト膜厚 = 1μm Eop 80mJ/cm2:プロファイル -1.5μm 10.2μm/53°
0μm レジスト膜厚 = 6μm Eop 120mJ/cm2:プロファイル 0μm 10.1μm/74° レジスト膜厚 = 3μm Eop 100mJ/cm2:プロファイル 0μm 10.1μm/75° レジスト膜厚 = 1μm Eop 80mJ/cm2:プロファイル 0μm 10.2μm/53°
1.5μm レジスト膜厚 = 6μm Eop 120mJ/cm2:プロファイル 1.5μm 10.0μm/75° レジスト膜厚 = 3μm Eop 100mJ/cm2:プロファイル 1.5μm 10.1μm/75° レジスト膜厚 = 1μm Eop 80mJ/cm2:プロファイル 1.5μm 10.2μm/53°

実装条件

基板

Si (HMDS処理)

レジスト膜厚

6μm ,3μm ,1μm

P.A.B.

120℃- 90 秒

露光

g・h・i 線 ステッパー(NA:0.16)

P.E.B.

110℃-90 秒

現像

NMD-3 2.38% 120秒

テーパー角

ポジタイプTLOR-P003HP

ポジタイプTLOR™-P003PM

リフトオフプロセス対応可能なアルカリ水溶液現像のポジ型フォトレジストです。ポジタイプの特長である高解像、良好な剥離性を生かしてリフトオフ工程の微細化が可能です。

特長

  • ポジティブトーンタイプ
  • 良好な剥離性
  • レジスト膜厚 =2.0~4.0μm
レジスト膜厚
2μm 3μm 4μm
プロファイル アンダーカット寸法 プロファイル アンダーカット寸法 プロファイル アンダーカット寸法
レジスト膜厚 2μm プロファイル A=0.30μm
B=0.38μm
レジスト膜厚 3μm プロファイル A=0.35μm
B=0.49μm
レジスト膜厚 4μm プロファイル A=0.49μm
B=0.61μm

実装条件

基板

Si (HMDS処理)

P.A.B.

90℃-90 秒

露光

i 線 ステッパー(NA:0.63)

P.E.B.

110℃-90 秒

現像

NMD-3 2.38% 60秒

アンダーカット

文中のTLORはTOKの出願中または登録商標です

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